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博曼BA100X射线荧光膜厚仪，对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。测量在几秒中内能完成，测试精准，既不会伤害材料，更不会受板型、现场条件、洁净度等因素的影响为您节约时间以及成本。
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