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美国博曼(BOWMAN)PCB板X-RAY膜厚测试仪

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 博曼BA100 X射线荧光膜厚测试仪,是应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪,是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能卓越,而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度。

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采购帮助2014年09月18日更新

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