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半导体BOWMAN X射线荧光美国膜厚测试仪

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是一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。
元素光谱定性分析:精度高、稳定性好.强大的数据统计、处理功能.
随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。并且,配备有新开发的薄膜 FP 法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。

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采购帮助2014年09月18日更新

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