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半导体 BOWMAN X射线荧光膜厚仪

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是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪,可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上,拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
测量技术领先同行15年,在同测量领域独领风蚤,成为膜厚仪之王,精准的数据,高端先进的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。

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采购帮助2014年09月18日更新

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