半导体美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪,,价格面议,你可以联系金霖电子(香港)有限公司深圳金东霖科技有限公司卖家了解更多的产品信息。
联系人:张丹,电话:0755-29371655。
是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。
以上是产品半导体美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪的品牌、型号,规格、价格及发货等相关信息,你可以到金霖电子(香港)有限公司深圳金东霖科技有限公司网址http://www.hqddw.cn/qiye/zd990225/上查阅更多产品信息。
金霖电子(香港)有限公司深圳金东霖科技有限公司的其它产品
联系方式
- 公司名称:金霖电子(香港)有限公司深圳金东霖科技有限公司
- 联 系 人:张丹
- 联系电话:0755-29371655
- 手机号码:13632962264
- 所在地区:广东 深圳市
- 联系地址:深圳市宝安区沙井镇北环大道110号新综合大楼502室