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江苏供应(钯-镍/Pd-Ni)镀层标准片
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。
我司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪,美国Thermo第二代 光学准直器X荧光测量仪及CMI900 X射线镀层测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚
度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。
镀层标准片（可提供特别订制）：
钯-镍(Pd-Ni) 3种型号
SPDNI30-80 Pd-Ni/XX 30u” (0.75um) 80%Pd
SPDNI80-80 Pd-Ni/XX 80u” (2.0um) 80%Pd
SPDNI120-80 Pd-Ni/XX 120u”(3.0um) 80%Pd
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