牛津仪器X-Strata920台式XRF镀层测厚仪 - X-Strata920，规格X-Strata920，价格面议，你可以联系牛津仪器卖家了解更多的产品信息。
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利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
- 无损分析：无需样品制备
- 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
- 操作简单，只需要简单的培训
- 分析只需三步骤
- 杰出的分析准确性和精确性
- 在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
高性能、高精度、长期稳定性
- 快速精确的分析带来生产成本最优化
- 精确测定元素厚度
- 优化的性能可满足广泛的元素测量
坚固耐用的设计
简单的校准调试
- 在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
- 方法建立只需几分钟
- 我们提供认证标准片以确保最佳精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
- 预置了多种校准参数
可分析多种样品形状和尺寸
- 可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件
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提供多种硬件供选配，满足各种需要
电子行业 - 有效控制生产过程，提高生产力
- 分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
- 测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
五金电镀行业 - 电镀表面处理的成本最小化，产量最大化
- 多样品和多点分析
- 单层或多层厚度测量
- 镀液成份分析
贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析
一致性检测 - 确保产品符合规格
- 测定有害物质从ppm级到高百分比级
- 有毒元素定量分析，例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定
- 按照IEC62321进行RoHS筛选
- 对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测
新能源行业 - 确保产品有效一致
- 光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析
- 通过镀层厚度分析优化导电性
X-Strata920 – 性价比高，无损可靠
一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。
- 新型号设计
- 快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
- 多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
- 开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
- 符合ISO3487和ASTM B568检测方法
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