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X荧光镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。
应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的,利用Thick-900A型X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比:
镀层标准厚度(µm) |
0.12 |
0.45 |
1.35 |
2.55 |
4.12 |
5.23 |
7.65 |
镀层荧光厚度(µm) |
0.11 |
0.48 |
1.37 |
2.47 |
4.06 |
5.35 |
7.58 |
2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的,见下表:
镍镀层标准厚度(µm) |
0.15 |
0.85 |
1.30 |
2.15 |
4.56 |
8.13 |
9.55 |
镍镀层荧光厚度(µm) |
0.13 |
0.88 |
1.33 |
2.20 |
4.60 |
8.25 |
9.48 |
金镀层标准厚度(µm) |
0.23 |
0.45 |
0.75 |
1.15 |
1.22 |
1.53 |
1.65 |
金镀层荧光厚度(µm) |
0.21 |
0.43 |
0.77 |
1.17 |
1.26 |
1.55 |
1.58 |
3.仪器长期稳定性评定
单镀层Ni/Cu稳定性测定:连续测定20次,计算其标准偏差和相对标准偏差,均能达到很好的效果。
测量 次数 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
Ni(um) |
1.778 |
1.783 |
1.774 |
1.78 |
1.774 |
1.765 |
1.784 |
1.763 |
1.759 |
1.769 |
测量 次数 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
Ni(um) |
1.751 |
1.768 |
1.78 |
1.763 |
1.792 |
1.768 |
1.792 |
1.762 |
1.752 |
1.754 |
平均 厚度 |
1.771 |
标准 偏差 |
0.01231 |
相对标 准偏差 |
0.00695 |
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xrf技术参数:
元素分析范围:从硫(S)到铀(U)
同时分析几十种以上元素,五层镀层
分析检测限可达2ppm,镀层分析可以最低0.005um厚度样品
分析含量一般为1ppm到99.9%
镀层厚度一般在50um以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
温度适应范围:15度到30度
仪器配置:
高压电源:0-50kv
光管管流:0uA-1000uA
滤光片:可选择多种定制切换
探测器:Si-Pin/(SDD可选)
多道分析器
样品腔尺寸:310*280*60 (mm)
外部尺寸:380*372*362
重量: 29kg
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