| 标准编号: IEC 60749-11 Corrigendum 1-2003
中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法 代替标准号: , 中国标准分类号: L40 标准关注次数: 41次 标准上传日期: 2011/1/15 发布日期: 2003-01 英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method 采用国际标准号: OEVE/OENORM EN 60749-11-2003,IDT, 标准类别: 国际电工委员会标准 |
