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IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分 温度的急速变化.双液电镀槽法

放大字体  缩小字体发布日期:2012-07-20  浏览次数:1217
核心提示: 中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
   标准编号: IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003

  中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

  代替标准号: ,

  中国标准分类号: L40

  标准关注次数: 25次

  标准上传日期: 2011/3/9

  发布日期: 2003-08

  英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2

  标准类别: 国际电工委员会标准

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