| 标准编号: DIN EN 60749-11-2003
中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法 代替标准号: DIN EN 60749-2002, 中国标准分类号: L40 标准关注次数: 37次 标准上传日期: 2010-9-18 发布日期: 2003-04 实施日期: 2003-04-01 英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002 采用国际标准号: EN 60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法,IDT, 标准类别: 德国标准 标准页数: 10P.;A4 页 |
