半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法

标准号：IEC 60749-11-2002

摘  要：

【 标准编号 】 IEC 60749-11-2002
【 标准名称 】 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法
【 英文名称 】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
【 正文语种 】 英语
【 起草单位 】 IEC/TC 47
【 发布单位 】 IEC
【 发布日期 】 2002-04
【 标准状态 】 N
【 开本页数 】 13P;A4
【 替代标准 】 IEC 47/1535A/CDV-2000; IEC 47/1605/FDIS-2002; IEC/PAS 62185-2000
【 采用关系 】 EN 60749-11-2002,IDT; BS EN 60749-11-2002,IDT; DIN EN 60749-11-2003,IDT; NF C96-022-11-2002,IDT; OEVE/OENORM EN 60749-11-2003,IDT
【 补 充 件 】 IEC 60749-11 Corrigendum 1-2003;IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
【国际标准分类号】 31.080.01
【中国标准分类号】 L40
【中文主题词】 电子设备及元件　温度变化　半导体　定义　定义　电学测量　电气工程　环境试验　集成电路　试验　组件　电子工程　气候　气候试验　半导体器件　机械试验
【英文主题词】 ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS　ENVIRONMENTAL TESTING　MECHANICAL TESTING　DESTRUCTIVE TESTING　DEFINITIONS　TESTING　SEMICONDUCTORS　COMPONENTS　ELECTRONIC ENGINEERING　CHANGES OF TEMPERATURE　INTEGRATED CIRCUITS　ELECTRICAL ENGINEERING　ELECTRICAL MEASUREMENT　CLIMATIC TESTS　CLIMATE　SEMICONDUCTOR DEVICES　DEFINITION
【 馆藏标志 】 *
【 国别代码 】 国际