半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法

标准号：IEC 60749-11 Corrigendum 1-2003

摘  要：

【 标准编号 】 IEC 60749-11 Corrigendum 1-2003
【 标准名称 】 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
【 英文名称 】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
【 正文语种 】 英语
【 起草单位 】 IEC/TC 47
【 发布单位 】 IEC
【 发布日期 】 2003-01
【 标准状态 】 N
【 采用关系 】 OEVE/OENORM EN 60749-11-2003,IDT
【国际标准分类号】 31.080.01
【中国标准分类号】 L40
【中文主题词】 电子设备及元件　半导体器件　电子工程　气候　电学测量　破坏试验　试验　温度变化　机械试验　组件　半导体　定义　电气工程　气候试验　环境试验　集成电路
【英文主题词】 MECHANICAL TESTING　ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS　SEMICONDUCTORS　ENVIRONMENTAL TESTING　CLIMATIC TESTS　DEFINITIONS　TESTING　COMPONENTS　CLIMATE　ELECTRONIC ENGINEERING　ELECTRICAL MEASUREMENT　DESTRUCTIVE TESTING　DEFINITION　CHANGES OF TEMPERATURE　INTEGRATED CIRCUITS　ELECTRICAL ENGINEERING　SEMICONDUCTOR DEVICES
【 国别代码 】 国际