| 标准编号：SJ 20147.1-1992 标准简介 本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。 英文名称： Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry 中标分类： 医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理 发布部门： 中国电子工业总公司 发布日期： 1992-11-19 实施日期： 1993-05-01 提出单位： 中国电子工业总公司科技质量局 归口单位： 中国电子技术标准化研究所 起草单位： 中国华晶电子集团公司等单位 起草人： 全庆霄、赵长春、顺兴生等 页数： 9页 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 1993-04-01 |
