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锡银凸块含银量控制方法

放大字体  缩小字体发布日期:2018-05-21  浏览次数:801
核心提示:本发明提供一种锡银凸块含银量控制方法, 其特征在于,所述方法包括:S30 :监测用于生产 锡银凸块的锡银电镀液的Sn4+浓度;S50 :所述锡 银电镀液的Sn4+浓度达到预设的极限浓度时

申请号 201510790246. 8

申请日 2015. 11. 17

申请人 南通富士通微电子股份有限公司

地址226006江苏省南通市崇川区崇川路288号

发明人 王自台

专利代理 机构北京志霖恒远知识产权代理 事务所(普通合伙)11435 代理人孟阿妮郭栋梁

发明名称 锡银凸块含银量控制方法

摘要

本发明提供一种锡银凸块含银量控制方法, 其特征在于,所述方法包括:S30 :监测用于生产 锡银凸块的锡银电镀液的Sn4+浓度;S50 :所述锡 银电镀液的Sn4+浓度达到预设的极限浓度时,将 所述锡银电镀液更换为新配置的锡银电镀液,返 回步骤S30 ;其中,所述新配置的锡银电镀液含有 Sn2+,不包含Sn4+。本发明通过监测锡银电镀液的 Sn4+浓度,并在Sn4+浓度达到预设的极限浓度时更 换锡银电镀液,一方面保障了充分利用锡银电镀 液,实现了精确的成本管控,另一方面同时保障了 锡银凸块的含银量不会过高,保障了产品的品质, 提升了广品的良率。

   锡银凸块含银量控制方法.pdf

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