电镀过程中,受工艺条件以及镀件表面粗糙度的影响,镀层表面可能存在一定的孔隙。当有腐蚀介质(如二氧化硫、氯及水蒸汽等)存在时,腐蚀介质从镀金层的微孔渗透到下面的镍层,使镍层发生腐蚀;镍层被蚀穿后,腐蚀介质渗透到基体金属,造成基体金属腐蚀(如图所示)。 图Ni/Au镀层结构腐蚀示意图 Figure Schematic diagram for the corrosion of Ni/Au deposit 腐蚀产物在孔内堆积,体积会逐渐膨大,将镀层顶起,形成鼓泡,甚至胀破镀层而冒出。其详细的反应机理如下: 盖板的腐蚀本质上是一种电化学腐蚀。腐蚀内因是Au与Au镀层缺陷处(如孔隙)裸露出的Ni底镀层或铁镍合金基体构成了电偶对。在Au-Ni电偶对中,Au是阴极,Ni是阳极,二者电位差为l.75 V,Ni将受到腐蚀。在Au-Ni一铁镍合金电偶对中,Au与Ni是阴极,铁镍合金是阳极,Au与Fe的电位差为1.95 V,Ni与Fe的电位差为0.19 V,铁镍合金基体将受到腐蚀。在有氯离子和液膜等外因存在时,铁镍合金基体受到所谓"点蚀"的局部腐蚀[3]。
电子封装镀层锈蚀原因分析 电子封装镀层锈蚀原因分析:前言 电子封装镀层锈蚀原因分析:故障描述 电子封装镀层锈蚀原因分析:问题定位 电子封装镀层锈蚀原因分析:故障验证及其相应的控制措施 电子封装镀层锈蚀原因分析:结语 |