所谓涡流测厚是通过探针使基体为导电材料表面一定深度内发生瞬间振荡电流回路。涡流电流的强度受镀层的厚度和基体材料的导电性能的影响。当镀层减薄时,会有更高的涡、流电流通过基体,而当镀层增厚时,通过基体的电流强度会减弱,据此可以计算出镀层厚度。 涡流法可以用于金属材料基体上的金属或非金属镀层的测厚,也可以用于非金属材料上的金属镀层的测厚,并且是非破坏性测厚法,因而也是应用较广的一种测厚法。特别是在涂料层的测厚应用更多,对镀层较薄时的误差会较大。 |
所谓涡流测厚是通过探针使基体为导电材料表面一定深度内发生瞬间振荡电流回路。涡流电流的强度受镀层的厚度和基体材料的导电性能的影响。当镀层减薄时,会有更高的涡、流电流通过基体,而当镀层增厚时,通过基体的电流强度会减弱,据此可以计算出镀层厚度。 涡流法可以用于金属材料基体上的金属或非金属镀层的测厚,也可以用于非金属材料上的金属镀层的测厚,并且是非破坏性测厚法,因而也是应用较广的一种测厚法。特别是在涂料层的测厚应用更多,对镀层较薄时的误差会较大。 |