环球电镀网
当前位置: 首页 » 电镀技术 » 技术问答 » 正文

物理测厚法有哪些?各具什么特点?

放大字体  缩小字体发布日期:2012-04-25  浏览次数:1126

   物理方法主要是指各种光学或电学仪器测量法,这些方法多数是非破坏性的,也有破坏性的方法,比如简便方法中的直接对剥离镀层用千分尺测厚的方法,还有就是金相法。

   (1)直接测量法 由于非金属表面的镀层比较容易从基体上剥离,因此,可以将镀层从基体上剥离后,直接用千分尺测量镀层的厚度。这是破坏性方法,如果不能对产品进行破坏性测量,则可以制作与所镀产品平行操作的试样,对试样的厚度进行直接测量。对于有些平板式或圆形制品等可以用游标卡尺或千分尺测量的制件,可以用镀前和镀后测量的差来获得厚度信息。直接测量法存在误差大和只能测厚镀层和一定形状镀层的缺点,所以用途有限。

(2)仪器测厚法现在已经有很多种采用仪器进行厚度测量的方法。比如采用探头或测试头等对镀层进行直接测量的测厚仪,其原理有磁性法、涡流法、B射线反向散射法、荧光X射线法等。

(3)金相法金相法需要用带有测微目镜的金相显微镜,并由专业人员进行测量。试样的制作要求比较严格,否则会影响测试的精度。

网站首页 | 网站地图 | 友情链接 | 网站留言 | RSS订阅 | 豫ICP备16003905号-2