半导体高频测试针俗称“雙頭彈弓針”,简称“高频针”。常用内针头型有:B,J,J1,U,U1,T等,体积细小,测试精度要求较高,主要用于半导体测试及通讯设备频率测试领域。如:手机、对讲机、电脑、广播等通讯频率测试。
本产品为深圳先得利自主研发制造,外径0.28mm,五种针头可任意搭配,总长5.7mm,弹弓弹力为0.6,针身材质为镍上镀金(GG),针头采用的是工具钢(SS)。028(外径0.28mm)系列还有总长为6.2mm和6.7mm两种规格的标准件,其中我们已在批量生产的型号包括:
SCPA028-XX-57-0.6GG(SS)
SCPA028-XX-62-0.5GG(SS)
SCPA028-XX-67-0.4GG(BS)
SCPA028-XX-67-0.6GG(BS)
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