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它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
我公司集中了国内最优秀的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发专家及生产技术人员，依靠先进科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-890 型X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
三. 仪器特点：
1． 仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。
2． 同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3． 可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
4． 无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
5． 检出限可达到2ppm。
6． 分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
7． 采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。
8． 采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
9． X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10． 采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11． 采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12． 采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。
13． 高度传感器。
14． 保护传感器，有效保护探测器。
15． 精确度高，稳定性好，故障率低。
16． 辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保
护，辐射安全性可靠。
17． WINDOWS XP 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操
作简单，使用方便。
四.仪器的技术特性
1． X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-890型X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2. X射线管激发系统
激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
3．高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。最佳分辨率能达到149eV±5ev。
4．能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。
5．计算机分析系统
高级名牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
高级激光打印机。
6．系统软件
国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、
理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
7．电源
AC 220V～240V、50Hz 。
额定功率：350W。选配高精度参数稳压电源。
8．仪器尺寸、重量
样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）
主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）
主机重量：约50KG。
五.应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比：
|
镀层标准厚度（µm） |
0.12 |
0.45 |
1.35 |
2.55 |
4.12 |
5.23 |
7.65 |
|
镀层荧光厚度（µm） |
0.11 |
0.48 |
1.37 |
2.47 |
4.06 |
5.35 |
7.58 |
2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的，见下表：
|
镍镀层标准厚度（µm） |
0.15 |
0.85 |
1.30 |
2.15 |
4.56 |
8.13 |
9.55 |
|
镍镀层荧光厚度（µm） |
0.13 |
0.88 |
1.33 |
2.20 |
4.60 |
8.25 |
9.48 |
|
金镀层标准厚度（µm） |
0.23 |
0.45 |
0.75 |
1.15 |
1.22 |
1.53 |
1.65 |
|
金镀层荧光厚度（µm） |
0.21 |
0.43 |
0.77 |
1.17 |
1.26 |
1.55 |
1.58 |
3.仪器长期稳定性评定
单镀层Ni/Cu稳定性测定：连续测定20次，计算其标准偏差和相对标准偏差，均能达到很好的效果。
|
测量 次数 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
|
Ni(um) |
1.778 |
1.783 |
1.774 |
1.78 |
1.774 |
1.765 |
1.784 |
1.763 |
1.759 |
1.769 |
|
测量 次数 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
|
Ni(um) |
1.751 |
1.768 |
1.78 |
1.763 |
1.792 |
1.768 |
1.792 |
1.762 |
1.752 |
1.754 |
|
平均 厚度 |
1.771 |
标准 偏差 |
0.01231 |
相对标 准偏差 |
0.00695 |
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4．常见的Au/Ni样品测量谱图：
苏州实谱信息科技有限公司位于江苏苏州专业从事X射线荧光光谱技术研发生产的高新技术企业。我公司涉及X射线荧光光谱仪、ROHS测试仪、X-ray膜厚仪、X荧光陶瓷鉴定仪、便携光谱仪等领先产品解决方案，并具有多年的X射线荧光光谱仪相关产品与服务的销售和经验。凭借专业的技术，诚信的经营，和不断创新的精神公司发展迅速。在发展的同时公司不忘不断总结不断优化为客户的服务，和一如既往的热情赢得了新老客户的极高评价及青睐。