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博曼BA100X-ray膜厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪。能进行非破坏、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。美国博曼，不单性能卓越,而且费用超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层多元素的样品也一样能胜任。轻巧的样品室，适合不同大小的样品。
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美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚仪