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是一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。

元素光谱定性分析:精度高、稳定性好.强大的数据统计、处理功能.

随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。并且，配备有新开发的薄膜 FP 法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。