收藏本页 | 设为主页 | 随便看看
普通会员

金霖电子(香港)有限公司深圳金东霖科技有限公司

新闻中心
  • 暂无新闻
产品分类
  • 暂无分类
联系方式
  • 联系人:张丹
  • 电话:0755-29371655
  • 手机:13632962264
站内搜索
 
友情链接
  • 暂无链接
您当前的位置:首页 » 供应产品 » 半导体美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪
半导体美国博曼(BOWMAN)X射线荧光膜厚测试仪
点击图片查看大图
产 品: 浏览次数:788 
单 价: 面议 
最小起订量:  
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2014-09-22  有效期至:长期有效
  询价
详细信息

是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。
询价单