IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分 温度的急速变化.双液电镀槽法
日期:2012-07-20 16:23
  标准编号: IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
  中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
  代替标准号: ,
  中国标准分类号: L40
  标准关注次数: 25次
  标准上传日期: 2011/3/9
  发布日期: 2003-08
  英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2
  标准类别: 国际电工委员会标准
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