日期:2012-07-23 15:42
标准编号: DIN EN 60749-11-2003
中文标准名称: 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法
代替标准号: DIN EN 60749-2002,
中国标准分类号: L40
标准关注次数: 37次
标准上传日期: 2010-9-18
发布日期: 2003-04
实施日期: 2003-04-01
英文标准名称: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002
采用国际标准号: EN