DIN EN 60749-11-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度骤变.双液电镀槽法
日期:2012-07-23 15:42
60749-11-2002,IEC 60749-11-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法,IDT,
　　标准类别: 德国标准
　　标准页数: 10P.;A4 页

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