日期:2012-04-12 11:36
标准号：IEC 60749-11-2002
摘要：
【 标准编号 】 IEC 60749-11-2002【 标准名称 】 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分: 温度的急速变化.双液电镀槽法【 英文名称 】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method【 正文语种 】 英语【 起草单位 】 IEC/TC 47【 发布单位 】 IEC【 发布日期 】 2002-04【 标准状态 】 N【 开本页数 】 13P;A4【 替代标准 】 IEC 47/1535A/CDV-2000; IEC 47/1605/FDIS-2002; IEC/PAS 62185-2000【 采用关系 】