日期:2012-04-12 11:36
EN 60749-11-2002,IDT; BS EN 60749-11-2002,IDT; DIN EN 60749-11-2003,IDT; NF C96-022-11-2002,IDT; OEVE/OENORM EN 60749-11-2003,IDT【 补 充 件 】 IEC 60749-11 Corrigendum 1-2003;IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003【国际标准分类号】 31.080.01【中国标准分类号】 L40【中文主题词】 电子设备及元件 温度变化 半导体 定义 定义 电学测量 电气工程 环境试验 集成电路 试验 组件 电子工程 气候 气候试验 半导体器件 机械试验【英文主题词】 ELECTRONIC EQUIPMENT AND COMPONENTS ENVIRONMENTAL TESTING MECHANICA