日期:2012-10-18 09:33
标准编号：SJ 20147.1-1992
标准简介
本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。
英文名称： Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry
中标分类： 医药、卫生、劳动保护医药、卫生、劳动保护综合C01技术管理
发布部门： 中国电子工业总公司
发布日