银和银合金镀覆层厚度测量方法 Ｘ射线荧光光谱法
日期:2012-10-18 09:33
期： 1992-11-19
实施日期： 1993-05-01
提出单位： 中国电子工业总公司科技质量局
归口单位： 中国电子技术标准化研究所
起草单位： 中国华晶电子集团公司等单位
起草人： 全庆霄、赵长春、顺兴生等
页数： 9页
出版社： 电子工业出版社
出版日期： 1993-04-01

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