印制电路板镀层缺陷成因分析及其对策
日期:2012-11-06 10:08

化学沉铜槽中空气搅拌和活化槽撞击或振动,对避免气泡进入孔中作用不大。此外,增加化学沉铜润湿性,前处理槽位避免气泡也十分重要。
镀液的表面能量与氢气气泡在跑出孔中或破灭前的尺寸有关,显然希望气泡在变大前排除了孔外,以免阻碍溶液交换,造成孔中镀层缺陷。
2.5.2 由有机干膜所造成的金属化孔镀层空洞。
2.5.2.1 有机干膜所造成的金属化孔镀层空洞特征:
有机干膜造成的金属化孔镀层空洞,往往位于孔口,即位于离板面较近的位置,大约 50~70m宽,离板面50~70m。边缘空洞可能位于板一面或两面,可能造成完全或部分开路。
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