半导体电镀中45nm铜工艺面临的挑战
日期:2012-11-28 10:44
D工艺沉积铜电镀种子层时很有意思:首先,种子层必须足够薄,这样才可以避免在高纵宽比结构上沉积铜时出现顶部外悬结构,防止产生空洞;但是它又不能太薄。
目前正在评估的一个解决办法是将铜直接镀在扩散阻障层上。其中,尤其是用钌作为阻障层具有很好的前景。钌不仅有可能取代扩散阻障层常用的Ta/TaN两步工艺,而且还能同时取代电镀种子层。由于钌是导体,因此铜可以直接电镀在上面。van den Hoek介绍说:钌是令人非常感兴趣的材料,因为它是一种准贵金属。钌不容易被氧化,但是即使被氧化了,生成的氧化钌也是导体。钌的另外一个好处
13/23 下一页 上一页 首页 尾页
返回 |  刷新 |  WAP首页 |  网页版  | 登录
07/31 06:45