日期:2013-07-15 15:00
，即意味着上述公式能应用于层厚GlOOiim的情况。这个应用范围对于纳米量级的薄层的测量是完全足够的。
玻璃板4能沿着X方向移动，测量仪器12、13、17能沿着Y方 向移动，这一事实就使得对有镀层的玻璃板4上所有点的透射、反射和电阻进行确定成为可能。这种情况下，透射和反射能以测量曲线
T=f(X)或R=f(X)的形式获得，就其数据而言处理起来比较困难。
然而，可以使简单的处理成为可能，只要为每条测量曲线在色度 图上指定色彩位置，例如在标准色度图CIE 1931上，其标准色度坐标 在正交坐标系中显示，接着只需要将测得的反射和透射曲线与所