日期:2013-07-15 15:00
量装置，其特征在于，光发射器(12) 设置在外壳中，该外壳内还设有光接收器，以便可以测量镀层的反射。
专利说明书
用于测量镀层的透射度的测量装置
本发明涉及一种按照本发明权利要求1的前序部分所述的测量装置。
衬底上的镀层，例如利用溅射在玻璃板上的镀层，应该是尽可能均 匀的。只有当镀层在整个衬底上具有同样的厚度时，才可以确保镀层的光学性质，例如透射、反射以及电阻，在所有点上都是相同的。
对这些光学性质的测量通常是在有镀层的衬底试样上进行的。衬底 试样是在实验室里被移动和测试的，这就必须花费相当多的时间。这