日期:2013-07-15 15:00
一 点对于表征大面积镀层的特征而言尤其明显，因为在这种情况下，必须使用和测试大量的试样。如果有好的空间分辨率，则需要将近80个小时的工作以在整个试样上获得其光谱反射、光谱透射以及表面电阻。
因此，本发明着手解决对镀层的基本光学性质进行自动探测的问题。 20 该问题可按照本发明权利要求1所述的特征来解决。
根据本发明可获得的优点特别包括：在有镀层的板状衬底的表面上 所有点处对其透射进行自动测量。本发明的一个实施例中更是使得对镀 层的光谱反射和表面电阻进行额外地自动测量成为可能。通常，用厚度为0.5-6mm的平板玻