日期:2013-12-12 18:19
（Fischer XDL测厚仪）
1、原理：
在X射线照射下，各种金属原子会激发出特征波长的X射线，特征X射线的强度在一定厚度范围内与该金属镀层厚度存在定量关系。
2、使用仪器：X荧光测厚仪
3、测量步骤：
a、根据样品特性建立并校准程式(第一次使用)。
b、将样品放入样品台并使被测表面水平。
c、聚焦后开始测量，测量完毕电脑自动显示或打印结果。
4、标准文件：ASTM B568-98(2004)
5、优点：无损检测、方便快速、可测1m以下镀层厚度。
6、缺点：仪器和标片价格昂贵，需经常校正。
7、注意要点：
a、建立或选择的程式要与被测