日期:2020-01-07 09:17
)，光亮镍( Light Ni) : 11.8m， 半亮镍( HalflightNi) : 20.4m，铜层(Cu) : 36.4m。
2 X射线光谱法(ASTM B568)
X射 线 荧 光 ( X-ray fluorescence，XRF)是指高强度入射X射线撞击置于入射光束路径上的材料时产生的二次辐射，因为这种二次发射具有该材料的波长和能量特征，所以，X射线光谱法测量镀层厚度的机理就是基于镀层单位面积质量(若密度已知，则为镀层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系，对于任何实际的仪器系统，该关系首先由已知单位面积质量的镀层校正标准块校正确定，若镀层材料的密度已知，同时又给出实际的