日期:2012-04-14 10:50
金相试样。用扫描电镜和 X射线能谱仪对镀层进行线分析，同时对镀层表面的斑点处进行点分析。图2，图3分别为5 #和2 #叶片试样镀层的线扫描分析结果。
从线扫描分析的结果可以看出：5#叶片总镀层厚度约为4.Oμm，2 #叶片总镀层厚度约为1.7 μm；5#和2#叶片表面均存在铜镀层，但铜层的厚度仅为0.05～0.29 μm。
对叶片表面的斑点形貌进行观察发现，斑点处存在小蚀坑。图4为5#叶片表面一处斑点的蚀坑形貌，坑洞顶部存在完整的镀层，坑洞内填满腐蚀产物。为确认腐蚀产物的化学成分，用X射线能谱仪对2#和5#叶片的坑洞内物质进行成分