天瑞仪器:新一代镀层测厚仪Thick 800A取得重大技术突破
日期:2009-09-21 00:00
急讯:天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展,已明显领先于世界同类仪器水平。镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,不过目前国内外行业技术水平都未能达到市场需求标准,作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,天瑞仪器一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助于透镜聚焦也仅仅只能达到0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已直指0.2mm以下。在董事长刘召贵博士、应刚总经
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