天瑞仪器：新一代镀层测厚仪Thick 800A取得重大技术突破
日期:2009-09-21 00:00
小样品镀层测厚仪的迫切需求，本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段，目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产，最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱，和广大客户如期会面。

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