日期:2012-04-16 10:27
镀层的XRD结果
在适宜的工艺条件下施镀15 min，对所得镀层进行XRD实验，所得XRD谱图采用Jade软件进行标定，实验结果，如图5所示。
对照体心结构锡的标准卡片可知：镀层沉积物在20为30.6°，32.O°，43.9°，44.9°和62.5°时出现（200），（101），（220），（211）和（112）晶面衍射峰，而（301），（321），（420）等一些晶面基本消失。镀层与体心结构锡晶面衍射峰相对强度的对比，如表1所示。
由表1可知：相比于标准锡，镀层的I（101） /I（200）， I（112） /I（2OO）的峰值比显着增大，说明镀层在（112）晶面发育较快，结晶