铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能：结果与讨论(二)
日期:2012-04-14 16:14
，导致接触电阻波动[6]。由此可见，铜一钨复合镀层同样具有较低、较稳定的接触电阻，可以取代银基触头。

铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能：前言
铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能：实验
铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能：结果与讨论(一)
铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能：结论

07/27 20:13