日期:2012-04-20 09:59
方向发生了化学位移，它的谱峰的结合能值为933.7 eV，这对应于Cu0的典型结合能值。两样品在Cu2p3/2和Cu2pl/2两个主峰之间都产生了Shake-up伴峰，该伴峰是Cu2+的标志。但样品I的伴峰远小于样品II的，这说明样品I的表面只有很少的Cu0与Cu2O共存，而样品II的表面则存在大量的Cu0。
图3不同引线框架样品的XPS谱图
通过SEM测试表明：所选择的两种引线框架样品的表面形貌相似；EDS测试表明：两种样品的表面组成也相似。这表明：引线框架表面铜的氧化状态对于最终所得镀锡层的性质有很大影响，当引线框架表面存在较多的Cu0时，得到的镀锡层易于出