日期:2011-11-23 09:36
1标准谱图比较法定性143
42波长测定法定性143
43纯样品比较法定性144
5定量分析144
51定量的基础144
52相对强度法145
53基体干扰及消除145
6试样引入激发光源的方法145
7电感耦合等离子体发射光谱146
71光源146
72进样装置147
73分光系统和检测系统148
74ICP?AES测量的主要参数148
75特点及应用148
第10章X射线衍射分析和X射线荧光光谱法151
1概述151
2X射线衍射分析151
21X射线衍射分析原理151
22仪器构成153
23仪器操作(粉末X射线衍射)153
24定性分析154
25注意事项154
26应用15