日期:2014-09-22 09:28
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详细介绍
美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪，采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量。能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能卓越,而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度。
对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量厚度!