厚仪、射线测厚仪、磁感应测厚仪、涡电流测厚仪、库仑测厚仪等出售。
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。
我司在中国地区代理韩国MICRO PIONEER XRF-2000系列X-射线测厚仪,美国Thermo第二代 光学准直器X荧光测量仪及CMI900 X射线镀层测量仪。此两种仪器主要用于涂镀层厚
度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。
镀层标准片（可提供特别订制）：
钯-镍(Pd-Ni) 3种型号
SPDNI30-80 Pd-Ni/XX 30u (0.75um) 80%Pd
SP