台式XRF镀层测厚仪 - X-Strata920
确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

高性能、高精度、长期稳定性

快速精确的分析带来生产成本最优化
精确测定元素厚度
优化的性能可满足广泛的元素测量

坚固耐用的设计

可靠近生产线或在实验室操作
生产人员易于使用

简单的校准调试

在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
方法建立只需几分钟
我们提供认证标准片以确保最

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