铜一钨复合镀层电沉积工艺及其性能:结果与讨论(一)
日期:2012-04-18 09:31
of tungsten indeposit1.2阴极电流密度的影响图2是在温度为30℃、搅拌速率500 r/min、镀液中钨质量浓度为30g/L的条件下,当阴极电流密度变化时,镀层中钨共沉积量的试验结果。由图2可知,钨共沉积量随阴极电流密度的增大而增加,当电流密度达到3.5 A/dm2时,钨共沉积量达到最大值。图2阴极电流密度与镀层中钨质量分数的关系Figure 2 Relationship between cathodic current density andmass fraction of tungsten in deposit1.3搅拌速率的影响图3是在温度为30℃、电流密度3 A/dm2、镀液中钨质量浓度为30 g/L的条件下,镀层中钨的共
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