动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick 800A
分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005m。
分析含量一般为2ppm到99.9%
X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
一次可同时分析多24个元素，五层镀层。
镀层厚度一般在50m以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流22